服务项目

服务项目

基础服务-NDE无损检测

三维显微镜设备介绍

三维显微镜设备介绍

数字式三维视频显微镜,它包括先进的观察、测量、分析、记录、管理以及报告输出等多种高级功能。

2019-04-17 08:57:32基础服务-NDE无损检测

光学显微镜BX53M设备介绍

光学显微镜BX53M设备介绍

奥林巴斯显微镜BX53,除了集成的明场观察部件外,还能添加各种其他的模块化部件,如荧光、相差、偏光、暗场等,提高了系统的可拓展性。使用100W卤素灯投射照明光源能够满足多种成像和观察方式。

2019-04-17 08:45:59基础服务-NDE无损检测

X-RAY设备介绍

X-RAY设备介绍

Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。

2019-04-16 18:12:43基础服务-NDE无损检测

SAT设备介绍

SAT设备介绍

超声波扫描显微镜Scanning Acoustic Microscope(SAM),又称SAT或SAM,是一种非破坏性的检测组件的完整性,内部结构和材料的内部情况的仪器,作为无损检测分析中的一种,它可以实现在不破坏物料电气能和保持结构完整性的前提下对物料进行检测。被广泛的应用在物料检测(IQC)、失效分析(FA)、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。

2019-04-16 17:18:51基础服务-NDE无损检测

SEM HITACHI S-4800

SEM HITACHI S-4800

扫描电镜/扫描电子显微镜scanning electron microscope(SEM)是1965年发明的较现代的物理学及生物学研究工具,也可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。

2019-04-16 17:09:28基础服务-NDE无损检测

SEM Quanta 250 FEG

SEM Quanta 250 FEG

扫描电子显微镜scanning electron microscope(SEM)是1965年发明的较现代的物理学和生物学研究工具,也可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。

2019-04-16 16:21:26基础服务-NDE无损检测

1-12/33 记录  1/3 页  首页  上一页  1  2  3  下一页  尾页  转到    页  跳至    页